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采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的測試方法

標 準 號: GB/T 32651-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中國電子技術(shù)標準化研究院 等
發(fā)布日期: 2016-04-25
實施日期: 2016-11-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2025年01月29日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了采用高質(zhì)量分辨率輝光放電質(zhì)譜法測量太陽能級硅中痕量元素的方法。

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