本文件描述了光學和光子學低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗的環(huán)境試驗方法。
本文件適用于光學和光子學儀器以及來自其他領域的組件（如機械、化學和電子設備)的低溫、高溫或溫度變化與碰撞或隨機振動綜合試驗。
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