本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了使用工業(yè)計算機(jī)層析成像（CT）設(shè)備對物體的密度進(jìn)行測量的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用能量范圍為200 keV～10 MeV的工業(yè)CT系統(tǒng)對常見金屬和非金屬材料進(jìn)行密度測量。