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微機電系統(tǒng)(MEMS)技術(shù) 基于光學(xué)干涉的MEMS微結(jié)構(gòu)面內(nèi)長度測量方法

標 準 號: GB/T 34893-2017
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 中機生產(chǎn)力促進中心
發(fā)布日期: 2017-11-01
實施日期: 2018-05-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2018年04月15日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了基于光學(xué)干涉顯微鏡獲取MEMS微結(jié)構(gòu)表面形貌進行面內(nèi)長度測量的方法。
本標準適用于表面反射率不低于4%,寬深比不低于1:10,且使用光學(xué)干涉顯微鏡能夠獲取形貌的MENS微結(jié)構(gòu)。

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