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半導體晶片近邊緣幾何形態(tài)評價 第1部分:高度徑向二階導數(shù)法(ZDD)

標 準 號: GB/T 43894.1-2024
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 山東有研半導體材料有限公司、浙江麗水中欣晶圓半導體科技有限公司
發(fā)布日期: 2024-04-25
實施日期: 2024-11-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2024年06月05日
內(nèi)容摘要

本文件描述了一系列高度徑向二階導數(shù)法(ZDD)評價半導體晶片的近邊緣幾何形態(tài)的方法。


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