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微波組件低氣壓檢漏試驗方法

標 準 號: SJ 21160-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 國家國防科技工業(yè)局
起草單位: 中國電子科技集團公司第十三研究所
發(fā)布日期: 2016-12-14
實施日期: 2017-03-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2022年08月12日
內容摘要

本標準規(guī)定了微波組件低氣壓檢漏的試驗程序與試驗方法。


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