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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽(yáng)能電池用硅片微裂紋缺陷的測(cè)試方法,主要內(nèi)容包括規(guī)范性引用文件、術(shù)語(yǔ)和定義、方法原理、干擾因素、儀器設(shè)備、試樣要求、測(cè)試環(huán)境、測(cè)試程序、精密度和試驗(yàn)報(bào)告等。