電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法第5部分：濕熱試驗設(shè)備

標(biāo) 準(zhǔn) 號： GB/T 5170.5-2016

替代情況：替代 GB/T 5170.5-2008

發(fā)布單位：中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會

起草單位：工業(yè)和信息化部電子第五研究所、廣州五所環(huán)境儀器有限公司、中國電器科學(xué)研究院有限公司等

發(fā)布日期： 2016-12-13

實施日期： 2017-07-01

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更新日期： 2017年07月17日

內(nèi)容摘要

GB/T 5170的本部分規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備(以下簡稱“設(shè)備”)的檢驗項目、檢驗用儀器及要求、檢驗負(fù)載、檢驗條件、檢驗方法、檢驗結(jié)果、檢驗周期等內(nèi)容。
本部分適用于對GB/T 2423.3、GB/T 2423.4、GB/T 2423.16、GB/T 2423.50所用試驗設(shè)備的檢驗。本部分也適用于類似試驗設(shè)備的檢驗。

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