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帶電粒子半導體探測器測量方法

標 準 號： GB/T 5201-2012
替代情況： 替代 GB/T 5201-1994
發(fā)布單位： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會
起草單位： 中核(北京)核儀器廠
發(fā)布日期： 2012-06-29
實施日期： 2012-11-01
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更新日期： 2017年01月09日
內(nèi)容摘要

本標準規(guī)定了帶電粒子半導體探測器的電特性和核輻射性能的測量方法以及某些特殊環(huán)境的試驗方法。
本標準適用于帶電粒子部分耗盡層的半導體探測器。
全耗盡型半導體探測器的測量可參照本標準執(zhí)行。

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