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納米技術(shù) 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法

標 準 號: GB/T 42208-2022
替代情況:
發(fā)布單位: 國家市場監(jiān)督管理總局 國家標準化管理委員會
起草單位: 深圳市德方納米科技股份有限公司、中國計量大學、北京粉體技術(shù)協(xié)會
發(fā)布日期: 2022-12-30
實施日期: 2023-07-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2023年05月19日
內(nèi)容摘要

本文件描述了利用透射電子顯微鏡圖像處理和分析技術(shù)進行納米顆粒在多相體系中分散的粒徑測量方法。本文件適用于固相多相體系中納米顆粒的粒徑測量和粒徑分析。本文件也適用于在樣品制備滿足透射電子顯微鏡觀察要求時的膠體和生物組織中納米顆粒粒徑測量。

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