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高溫合金化學(xué)成分光譜分析方法 第5部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定硅含量

標(biāo) 準(zhǔn) 號: HB 20241.5-2016
替代情況:
發(fā)布單位: 工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國航空綜合技術(shù)研究所
發(fā)布日期: 2016-01-19
實施日期: 2016-03-01
點 擊 數(shù):
更新日期: 2019年01月26日
內(nèi)容摘要

本部分適用于鎳基、鐵鎳基高溫合金中硅含量的測定。
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