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光學和光子學 光學薄膜 第4部分:規(guī)定的試驗方法

標 準 號: GB/T 26332.4-2015
替代情況:
發(fā)布單位: 中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
起草單位: 沈陽儀表科學研究院有限公司、同濟大學、浙江大學、大連化學物理研究所
發(fā)布日期: 2015-12-10
實施日期: 2016-07-01
點 擊 數:
更新日期: 2017年11月29日
內容摘要

GB/T26332規(guī)定了在光學元器件及基片表面鍍制的光學薄膜的應用功能分類、技術指標的標準表述形式、常規(guī)特性及試驗測量方法,但不擬用于規(guī)定鍍制方法。
本部 分 規(guī) 定 了 在 GB/T 26332.3 中 提 到 的 光 學 薄 膜 環(huán) 境 適 應 性 試 驗 方 法,這 些 方 法 在
GB/T12085—2010標準中沒有描述。這些方法通常與 GB/T26332.3—2015附錄 A 中的測試方法組
成試驗序列共同使用。
本部分不適用于眼科光學(眼鏡)的光學薄膜。

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