本文件規(guī)定了室溫下采用雙環(huán)法測定精細(xì)陶瓷等雙軸彎曲強度試驗方法。
本文件適用于平均晶粒尺寸小于100 μm的單相陶瓷材料等雙軸彎曲強度的測定。本文件也適用于各相平均晶粒尺寸（或長度）均小于100 μm，顆粒、晶須和（或）非連續(xù)纖維增強的復(fù)相陶瓷等雙軸彎曲強度的測定。